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真(zhen)空金屬鍍(du)鋁(lv)膜厚度(du)測試(shi)儀可以測試(shi)鍍(du)鋁(lv)層的均勻度(du)，厚度(du)及電阻值，并*具有(you)溫度(du)補償功能，大液晶(jing)屏顯示，自(zi)帶微型打印(yin)機(ji)，隨(sui)時打印(yin)測試(shi)數據(ju)。

食品(pin)用鋁箔紙鍍鋁層厚度(du)/均(jun)勻度(du)測(ce)試儀符合國標GB/T15717《真空(kong)金屬鍍層厚度(du)測(ce)試方(fang)法 電阻法》中相關要求(qiu)。

食品級口香糖內襯紙鍍(du)鋁層測(ce)厚儀符(fu)合國(guo)家標準GB/T15717，專(zhuan)業測(ce)試各種鍍(du)鋁層厚度。

煙包內(nei)襯紙鍍鋁層(ceng)測厚(hou)(hou)儀(yi)主要測試煙包中銀色內(nei)襯紙鍍鋁層(ceng)厚(hou)(hou)度值。

真空(kong)金(jin)(jin)屬(shu)鍍鋁層均(jun)勻度(du)(du)(du)|電阻(zu)值(zhi)厚度(du)(du)(du)儀符合(he)國標GB/T15717，可測(ce)試真空(kong)金(jin)(jin)屬(shu)鍍鋁層均(jun)勻度(du)(du)(du)及電阻(zu)值(zhi)，還可以測(ce)試鍍鋁層厚度(du)(du)(du)值(zhi)。